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中科院新疆理化技术研究所研究生导师李豫东介绍如下咨询QQ、微信:2544906器件辐射效应模拟试验方法光电成像器件、大规模集成电路的辐射效应测试技术、损伤失效模式、辐射损伤表征方法、模拟试验技术和评估方法研究。3.新型电子元器件辐射效应试验系统研究光电成像器件、大规模集成电路的测试方法研究与测试设备的研制。
代表性文章:
1.李豫东,张立国,任建岳,空间光学遥感器中Flash存储器的辐射效应与加固,光学精密工程,2008,16(10):1858-1863.2.李豫东,任建岳,金龙旭,张立国,SRAM、ROM的总剂量辐射效应及损伤分析,光学精密工程,2009,17(4):787-793.3.李豫东,郭旗,陆妩等,CCD在不同注量率电子辐照下的辐射效应研究,原子能科学技术,2012,3(46):347-350.4.李豫东,任建岳,金龙旭,面向对象的嵌入式系统电源管理模型,计算机工程,2009,35(9):14-16.5.张立国,李豫东,刘则洵等,TDI-CCD总剂量辐射效应及测试,光学精密工程,2009,17(12):2924-2930.
研究领域:物理学 |
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